‌These benchtop instruments는 공기 또는 저진공 조건에서 Na에서 Bk까지 요소를 측정할 수 있다. X선의 침투력과 더 큰 spot size를 가진 Orbis 분석기는 전자현미경을 스캔하여 더 큰 형상의 표본을 찾는 것보다 더 적합하다. EDAX의 강력하고 사용하기 쉬운 Vision 소프트웨어는 정확한 요소 분석을 제공합니다.

Innovative X-ray Optic/Video Geometry 
Orbis는 고급 X선 광학 장치와 고품질 비디오 카메라를 샘플에 수직으로 탑재하여 광범위한 샘플 기하학 분야에 적합합니다. 이 혁신적인 디자인은 진정한 "what you see is what you analyze" 기능을 제공한다. 잘못된 측정으로 이어지는 X선 빔의 장애물이 쉽게 감지될 수 있습니다. 카메라에 방해되는 뷰가 있는 경우 X선 빔이 차단됩니다. 지형도를 사용하여 샘플을 측정할 때 X선 빔의 음영 처리가 제거됩니다. 또한 기기의 설계된 작동 거리 범위 이상으로 정성적 분석을 더 쉽게 수행할 수 있습니다. 

A Wider Range of Applications 
Orbis 분석기는 범죄 과학 수사, 산업 품질 관리, 비파괴 검사, 자재, 전자 제품 및 지질 샘플 분석 등 다양한 용도에 적합합니다. 

EDAX Analyzer Models 
Orbis Micro-EDXRF 분석기는 Orbis MC Analyzer와 Orbis PC Analyzer라는 두 가지 표준 모델로 제공됩니다. EDAX는 각 모델에 대해 다양한 추가 옵션을 제공합니다. 이 두 모델은 매우 정밀한 비파괴 소자 분석이 필요한 광범위한 분야에 적용됩니다. Orbis Vision 소프트웨어는 두 모델 모두에서 사용할 수 있습니다.