XLNCE SMX-BEN은 벤치탑 에너지 분산형 X선 형광체(EDXRF) 분석기로, 거의 모든 재료에 대해 비파괴, 구성 및 코팅 두께 측정 및 분석을 제공합니다. R&D, 공정개발, 공정관리, 실패분석에 탁월한 선택이다. 사전 또는 초기 생산 단계에서 재료 선택 및 조리법 제정을 촉진하고 가속화하며, 공정 내 플랫폼 도구를 용량 생산에 잘 활용할 수 있도록 지원합니다.
· X선 광학 및 기본 필터에 대한 다양한 옵션 제공 · 최신 세대의 Silicon Drift Detectors 장착 · 간단한 보정 프로세스로 경험적, 기본 매개변수(FP) 솔루션 제공 · Large analysis chamber · X-Y-Z 프로그램 가능한 위치 지정 Specialized application areas: · 태양광 제조 · 보호 금속 코팅 · 웨이퍼 수준 미터링 및 마이크로 전자공학 · 부식/마모 및 열 장벽 분석
XLNCE SMX-BEN은 타의 추종을 불허하는 가격 대비 성능비로 성능과 다기능성을 제공합니다
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