XLNCE SMX-ILH XRF 시스템은 견고하고 유연한 기질에 대한 코팅 구성 및 두께 측정의 인라인 대기 분석을 위한 통합 및 원격 모듈 구성을 제공하는 프로세스 제어 및 항복 관리 플랫폼입니다. 이 시스템을 사용하면 전동식 프로그래밍식 단일 또는 이중 통합 측정 모듈을 통해 static or across the gradient에서 전체 패널 분석을 위해 측정 enclosure를 통해 코팅된 재료를 이동할 수 있습니다.
XLNCE SMX-ILH patented Thermal Shield 는 최대 300 ̊C의 고온 기질에 대한 실시간 XRF 데이터를 촉진하여 패널 드웰 시간을 단축하고 공정 처리량을 개선합니다. Z축 높이 조정 전용 기능은 특히 고온에서 대형 패널에 공통적인 평면도와 함께 활과 휘장을 수용하여 측정 품질을 더욱 개선합니다.
· 구성 및 두께 분석 · 재료 선택, 도면층 생성 · 인라인 및 오프라인 프로세스 제어 · 수율관리 Specialized application areas: · CIGS와 같은 금속 필름 스택 구성 · 태양광 생산 공정 · 마이크로 전자 제조 · 부식 저항 코팅 · 단열재 코팅 · 에너지(CIGS, CIS, 배터리)
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