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Cross-section station

‌For use with the Model 1061 SEM Mill

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  • For use with the Model 1061 SEM Mill
  • Produce pristine cross-section samples
  • Precise positioning of the area of interest
  • Effective for use with a wide variety of materials, including semiconductor devices, multilayers, ceramics, and hard/brittle materials
  • Prepared region of interest is flat and free from damage for subsequent scanning electron microscopy (SEM) imaging and analysis

‌High-quality cross-section samples은 사용자 친화적인 loading station의 샘플에 마스크를 고정한 다음 Fischione Instruments 모델 1061 SEM에서 샘플을 ion milling함으로써 빠르고 쉽게 생산할 수 있습니다. 이 검체 준비 방법은 내부 층의 품질을 유지하고 원상태에서 재료의 영상화 및 분석을 가능하게 합니다.

The station은 광범위한 샘플 크기를 수용하도록 설계 되었으며 마스크와 샘플의 정렬은 측면과 각도로 수행됩니다.