Facilitates the acquisition of structural and elemental information in three dimensions
Analytical Tomography Holder는 에너지 분산 X선 분광법에 최적화되어 있습니다. The holder tip and clamps는 표본의 elemental analysis을 수행할 때 X선 interference 을 최소화하기 위해 beryllium으로 제조됩니다. 극 피스 간격 5mm 이상으로 시야가 큰 극도로 높은 기울기로 시료를 촬영할 수 있습니다.

분석 단층 촬영 홀더는 구조 및 원소 구성 조합이 필요할 때 전자 단층 촬영에 이상적이며, 높은 표본 기울기가 필요한 다른 용도에도 적합합니다.

No shadows
A streamlined specimen clamping mechanism은 대부분의 홀더와 관련된 그림자를 높은 경사각에서 제거합니다. clamping mechanism은 표준 3mm 직경의 TEM 시편을 수용하고 광범위한 표본 두께를 수용합니다. 표본 clamping mechanism은 표본에 고르게 분포된 힘을 생성합니다. The tapered, self-centering specimen cup은 시료를 제 위치로 유도한다. The fully retractable clamps 는  dual-axis tilt series에서 시편을 수동으로 사전 정렬하거나 회전할 수 있도록 합니다.