BS-200은 변형 중 미세구조물의 동적 변경을 관찰하기 위해 SEM과 EBSD/OIM에 의해 특별히 설계된 specimen Bend Stage 입니다. 시료의 단면도를 관측하도록 설계되었습니다. 단계는 SEM 단계를 수정하지 않고 EBSD/OIM과 쉽게 결합할 수 있는 SEM 단계로 설정할 수 있습니다.
Feature ; BS-200은 매우 compact 하게 설계된 3점 표본 굴절 단계입니다. JEOL JSM-7001F의 경우 표준 specimen holder와 같은 specimen 교환 port를 통해 SEM 단계로 설정될 수 있을 정도로 작습니다. EBSD 관찰을 위해 SEM 단계에 의해 70도로 기울어질 수 있습니다. 중심점이 고정되어 움직이지 않습니다. 이것은 specimen를 안정적으로 관찰할 수 있습니다.
Specifications ; · Specimen Size : 5 x 29, = 1.0~1.5 mm · Max. Load : ~200N · Max. Bend speed : 5.0 µm/sec · Specimen tilt : 70° (by SEM stage) · Stage size : 74 x 86x 23 mm (except SEM adaptor) · Control : PC control · Input Power : 100V/3A or 200V/2A
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